ㅇ HALT(Highly Accelerated Life Test) 시험기는 주어진 스트레스 하에서 제품의 고장을 유발하는 요인 혹은 시험품의 성능 한계를 확인하는 용도로 활용

ㅇ HALT는 특히 반도체, 디스플레이, 전장 및 네트워크 제품 및 부품에 적용되는 필수 시험으로 개발단계 제품에 최대한의 스트레스(고온, 저온, 열충격, 랜덤 진동 등)를 인가하여 설계의 문제점 및 잠재적 고장 요소를 찾아 개선점을 찾고 설계 Margin을 산출하는 역할 수행함

ㅇ 개발품의 설계단계에서 취약 부분을 찾아 시장에서의 return율을 낮추는 것이 목적으로 Field 환경을 모사하는 개념이 아니며, 취약 부분을 최대한 빨리 발견할 수 있도록 저온/고온, 열충격 및 랜덤 진동 등을 가속 부가하여 weak point를 도출함